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公开/私有: 公开 私有
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1.
封面仅供参考
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: TN405/40
2.
封面仅供参考
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TN43/1
3.
封面仅供参考
电子元器件失效分析与典型案例 已借1次.
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书 , 索书号: TN6/12
4.
封面仅供参考
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TN6/96
5.
封面仅供参考
可靠性物理
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TB114/27
6.
封面仅供参考
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2013
文献类型: 图书 , 索书号: TN06/7
7.
封面仅供参考
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TN43/1
8.
封面仅供参考
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TN743/1
9.
封面仅供参考
MEMS可靠性
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2012
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/107